冷热冲击试验箱满足行业标准试验方法

日期：2024-04-23 21:35

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摘要：冷热冲击试验箱主要用途：用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。冷热冲击试验箱应用领域：用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、车...

冷热冲击试验箱主要用途：用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。

冷热冲击试验箱应用领域：用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT、等物理性变化的测试之用

冷热冲击试验箱满足标准试验方法

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低温试验方法 Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高温试验方法Bb

GB2423.22-87温度变化试验方法

GJB150.5-86温度冲击试验

GJB360.7-87温度冲击试验

GJB367.2-87温度冲击试验（每立方米负载不大于35kg/m3钢的热容量，湿热试验时无有源湿、热负载）

冷热冲击试验箱产品特点

1、试验系统结构设计先进合理，GB/T2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001

2、该试验箱主要功能元器件均采用进口配置（含金量高）、技术原理可靠、噪音与节能得到控制——其性能可替代国外同类产品。

3、整机制冷系统采用PID演算控制,不需加配发热管消耗额外功率，省电高达35%

4、设备具有良好的操作性、维护性、良好的温度稳定性及持久性、良好的保护性能、不污染环境及危害人身健康。

冷热冲击试验箱主要技术参数

产品名称	高低温冲击试验箱
产品型号	DECF-408 -65（风冷式）
试样限制	本试验设备禁止：易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存腐蚀性物质试样的试验或储存生物试样的试验或储存强电磁发射源试样的试验或储存放射性物质试样的试验或储存剧毒物质试样的试验或储存试验或储存过程中可能产生易燃、爆炸、挥发、剧毒、腐蚀及放射性物质的试样的试验或储存
容积、尺寸和重量
内容积	(408L )
内箱尺寸	1000650750
外形尺寸	200023002600
重量	(9500 )KG
性能
测试环境条件	环境温度为+5~+28℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下
测试方法	GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001
高低温区温度范围	1.高温区部分：60℃~205℃ 2.低温区部分：-10℃~-80℃ 3.测试区部分：190℃~-65℃
温度测试范围	1.高温：60℃~205℃ 2.低温：-10℃~-65℃
高低温转换时间	≤10S
高低温恢复时间	3~5min（非线性空载下）
控制精度	温度：±0.2℃ （指控制器设定值和控制器实测值之差）
温度波动度	≤0.5℃（温度波动度为中心点测高温度和低温度之差的一半）
温度误差	≤±1℃（控制器显示值的平均温度减去中心点实测的平均温度）
温度均匀度	≤±2℃为每次测试中实测高温度和低温度之差平均值）
预热区升温速度	≥3℃/min（非线性）
预冷区降温速度	≥2℃/min（非线性）
工作噪音	A声级≤70dB(A) (在环温25℃，回声少的隔音室内测得；采用A计权，测试8个点的平均值；各测试点水平离噪音源1米、高度离地面1米)

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