产品详情
  • 产品名称:IC半导体芯片老化测试箱

  • 产品型号:DYHAST-300
  • 产品厂商:厦门德仪
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简单介绍:
IC半导体芯片老化测试箱广泛适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测便供产品的设计、改进、检定及出厂检验使用。
详情介绍:
IC半导体芯片老化测试箱产品简介:加速老化箱测试产品在高温、高温高湿及压力的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验,主要用于对电工,电子产品,元器件,零部件,IC半导体,磁性材料,高分子材料,金属材料,EVA材料,连接器,光伏组件及其材料在模拟高温、高温高湿及压力的气候条件下,对产品的物理以及其它相关性能进行测试,测试后,通过高压加速老化寿命试验机检定来判断产品的性能是否能够达到要求,以便供产品的设计、改进、检定及出厂检验使用。

IC半导体芯片老化测试箱参数规格

产品名称型号

 高压加速老化试验机 (HAST非饱和高压加速老化试验机)

 DYHAST-300   

试样限制

本试验设备禁止:易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存。腐蚀性物质试样的试验或储存。强电磁发射源试样的试验或储存。

IC半导体芯片老化测试箱产品相册

 标称内容积

内箱尺寸

Φ300×D 450 (mm) 

 W650XH1200XD950(mm) 
     

性能参数

测试环境条件

使用方法

环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下GB/T 5170.2-1996 温度试验设备.

温度范围

105℃ → +132℃.

温度波动度

≤±0.5℃.

温度均匀度

≤±2.0℃.

湿度范围

65% ~ 100 %R.H .

湿度波动度

≤±2.5 %R.H.

湿度均匀度

≤±3.0% R.H.

压力范围

0.2~2㎏/㎝2 (0.05~0.196 MPa) (箱内压力)

升温时间

常温 → + 132℃   约50 min .

升压时间

常压 → + 2㎏/㎝2   约45 min.   外部气源加压:约5 min

负载情况

 

偏压端子

 不含偏压端子(订购时需注明)

满足标准

 IEC60068-2-66;JESD22-A102-C; JESD22-A110-B;JESD22-A118;GB/T 2423.40-1997

IC半导体芯片老化测试箱性能特点

保温围护结构

外壁材料:上等钢板喷塑。
内壁材料:不锈钢板SUS316 。
箱体保温材料:超细玻璃棉。

试验箱内空气调节

加热器、加湿器、给排水口、温湿度传感器、压力传感器。

试验箱标准配置

 

平面嵌入式把手。
门铰链:SUS #304。
不锈钢SUS #316格栅式钢板置物架2片。
不锈钢SUS #316置物架轨道2组。

箱门

单片园型门,左开,把手在右手边。
内箱压力愈大时 , packing
有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。

控制面板

控制器显示屏、超温保护设定器。

机械室

**阀、泄压阀、自动补水泵、补水电磁阀,接水盘、排水孔,,自动泻压伐。

加热器

试验箱内不锈钢电热器加热空气方式。

加湿器

钛管加湿管永不生锈。

加压方式

水盘蒸汽加压系统及外部气源补助。

循环方式

磁流体密封件+风叶强制对流循环方式。

电源线孔及排水孔

位于箱体背面。

自动补水系统

一家采用主动式自动补水功能;试验永远不终断。

手动泄压

应急泄压之手动泄压阀。

干燥功能

采用真空干燥功能,保证样品试验后处于干燥状态。
试验结束时设备会自动泻除压力并真空干燥。

其它功能

饱和或不饱和控制模式切换(依设定条件自动调节)。

IC半导体芯片老化测试箱控制系统功能

 控制器首页界面

 硬件台湾产,程序自主研发HAST-6890型

控制器

采用 进口7英寸微电脑彩色液晶显示触控式屏幕直接按键型,中英文表示之广视角,高对比功能过程控制器,并附多组PID控制功能.

控制器规格

精 度: 温度±0.3℃、湿度±1%R.H ,压力±0.1%R.H 。
分辨率:温度±0.1℃,湿度±0.1%R.H. 压力0.1㎏/cm2
具有上下限待机及警报功能.
温湿度入力信号干湿球(RTD)PT-100Ω×2(铂金电阻).
压力入力信号4~20ma.
6组P.I.D控制参数设定,P.I.D自动演算.
干湿球自动校正.

画面显示功能

采画面对谈式,无须按键输入,屏幕直接触摸选项.
设定(SV)与实际(PV)值直接显示.
可显示目前执行的剩余时间.运转累计时间功能.
设定值以图形曲线显示,具实时显示程序曲线执行功能.
具单独编辑画面,可输入温度,湿度、压力及试验时间.
中英文可任意切换;故障提示画面显示;屏幕可作背光调整.屏幕显示保护功能可作定时,TIMER或手动关闭设定.

控制容量及功能

可程序时序控制模块装置x2组。
具有断电程序记忆,复电后自动启动并接续执行程序功能。
具RS-232通讯接口,双向操控机器及曲线数据存盘计算机硬盘。
具USB接口,随时下载历史数据。
执行时可实时显示图形曲线。
具有预约启动及关机功能。
具有日期,时间调整功能。
机器保养提示自学功能。
按键及画面锁定(LOCK)功能。

IC半导体芯片老化测试箱安装步骤与维护

温度压力保护

压力超压保护;压力超限**重保护。
温度超限报警保护。
压力极限之机械泄压断电装置。
温度极限超温断电装置。
加湿管极限温度断电保护装置。
缺水保护。

电路系统保护

漏电保护。
加热加湿干烧保护。
超载及短路保护。
断电保护。

IC半导体芯片老化测试箱产品优势       

集中监控软件

用于远程集中监控,随软件(集中监控软件)配RS-485/RS-232转换器1个软件使用环境:IBM PC兼容机,PⅡ以上CPU,128M以上内存,简体中文Windows2000或简体中文WindowsXP操作系统

运输

试验箱为整体式,整体运输.

尺寸

重量

*大运输尺寸(不含包装):参见 “外形尺寸”。

*大运输重量(不含包装):参见 “重量”。

使用条件

由用户保证下列各项条件。

安装场地

地面平整,通风良好;设备周围无强烈振动;设备周围无强电磁场影响。
设备周围无易燃、易爆、腐蚀性物质和粉尘。
设备周围留有适当的使用及维护空间。

安装要求

操作环境需在通风良好之条件下进行。

温度:5℃~35℃;相对湿度:≤85%;气压:86kPa~106kPa。

供电条件电源
电源容量
电源开关

 AC220V  单相+保护地线。要求用户在安装现场为设备配置相应容量的空气或动力开关,并且此开关必须是独立供本设备使用。
约3.5 kW。
20A。

对储存环境的要求

设备不工作时,环境的温度应保持0℃~+45℃以内。

当环境温度低于0℃时,应将设备中存留的水排放干净,以免管道内的水结冰涨坏管道。

IC半导体芯片老化测试箱**注意事项

1、操作**装置:锅门若未关紧则机器无法启动.
2、超压**保护:当锅内压力超过较大工作值自动排气泄压.
3、超温保护:当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源.
4、**保护:特制材质制成可防止操作人员接触受伤.


厦门德仪设备有限公司专业生产的环境试验设备主要适用于:塑胶橡胶、纸品、包装、印刷、胶粘带、五金电子、玩具、家俱、鞋类、婴儿用品等众多行业。并且适用于各种科研单位、质检机构、研究所、高校学术探讨等各大领域。公司主要研发、制造和销售的环境试验设备有:高压加速老化装置、高低温交变湿热试验箱、高低温交变试验箱、高低温箱、恒温恒湿试验箱、步入式恒温恒湿室、换气式老化箱、冷热冲击试验箱、紫外线老化箱、氙灯老化试验箱、臭氧老化箱、盐雾试验箱、淋雨试验箱、砂尘试验箱、耐黄变试验箱、超低湿常温干燥箱、电子防潮柜,低温低湿干燥箱、真空干燥箱、电热鼓风干燥箱、跌落试验机、调频扫频振动试验台、高压加速寿命实验机等环境试验设备。产品完全符合UL、ASTM、JIS、GB、ISO、TAPPI、EN、DIN、BS……等国际标准。

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